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SDE系列快速溫度變化試驗(yàn)篩選箱主要用于溫度應(yīng)力篩選，同時也可以用于傳統(tǒng)的高溫、低溫、高低溫循環(huán)、恒定濕熱、交變濕熱、溫濕度組合等環(huán)境試驗(yàn)。

高低溫試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于航空、航天、造船、軍事、信息、電子等領(lǐng)域，作儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備等的寒冷試驗(yàn)與低溫儲藏

高低溫試驗(yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)： GB/T10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB/T2423.2-2001試驗(yàn)B GB/T2423.22-2002試驗(yàn)Nb

小型低溫試驗(yàn)箱＼超低溫試驗(yàn)箱的執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)： GB/T10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;2423.1-2001試驗(yàn)A;IL-STD-810F美軍標(biāo)

SDK710F低溫試驗(yàn)箱 執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)： GB/T10589-2008低溫試驗(yàn)技術(shù)條件;GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A;MIL-STD-810F美軍標(biāo)